日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-731
凭借出色的可操作性，
即使对于大型板，也可以以z高的精度测量极小的零件。
-采用双重过滤器，可实现z高精度和z佳条件
的测量
-通过将鼠标移至测量位置来实现快速对准-多任务功能可进行其他处理，甚至在测量过程中也可创建报告-
z小准直仪为0.05φmm，可以测量非常小的零件
荧光X射线膜测厚仪EX-731的特点
采用双重过滤器
通过使用除中性过滤器之外的机械过滤器（双重过滤器），可以在z佳条件下进行测量，从而始终获得z高的精度。
自动测量阶段
通过将鼠标对准测量位置实现快速对准。另外，如果注册测量位置，则可以进行连续自动测量。通过坐标校正和通道链接支持各种模式。标准板校准也可以自动测量。
增强的报告创建功能
通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。使用多任务功能，即使在测量过程中，也可以进行包括报告创建在内的其他处理。
内置5种准直仪
z小准直仪为0.1φmm，可测量极小的零件。标准0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有两种特殊规格可供选择。
・ 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
・ 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自诊断功能和X射线管维护功能
自诊断功能可以迅速解决设备问题。另外，增加了X射线管的使用时间和耐用时间显示功能，以确保维护安全。
膜厚测量中的频谱显示
多通道光谱分析高速处理使简单的操作可以显示被测物体的光谱。（处理速度约2至3秒）
显示测量单元监控图像
将X射线照射部件导入Windows屏幕并显示X射线照射部件。准直仪实现改变尺寸的放大率改变功能。
可视化显示被测物的镀层附着力分布
三维图形显示使查看被测物的镀层厚度分布变得容易。
日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-731
荧光X射线膜厚计EX-731的规格
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类型 |
手动阶段 |
自动舞台 |
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测量头 |
尺寸（毫米） |
170 x 110 |
300 x 280 |
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运动量 |
X（毫米） |
70 |
80 |
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Y（毫米） |
70 |
60 |
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Z（毫米） |
80（z大被测物高度150） |
50 |
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被测物体高度（z大） |
80（选项150） |
50 |
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尺寸（毫米） |
600（宽）x 465（深）x 730（高） |
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重量（公斤） |
79 |
85 |
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样品负荷（公斤） |
3 |
2 |
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电脑 |
尺寸（毫米） |
主机182（W）x 383（D）x 372（H）
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重量（公斤） |
主机6.8 /显示器2.8 |
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打印机 |
重量（公斤） |
3.4 3.4 |
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电源供应 |
AC100V±10V |
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