小型台式X射线衍射仪：用于粉末材料鉴别，物相分析，材料物相的定性定量分析，晶体结构分析。
Olympus新一代
BTX™ III
移动X射线衍射(XRD) 分析仪在现场和实验室更快地提供定量矿物学结果。强大、直观的软件与两个系统上的新型X射线探测器相结合，可以提高速度并提供结果使您快速、自信地做出决策。
一个数据仪表板：
在一个视图中查看所有结果、校准和分析信息，以加快工作流程。
无线功能：
使用具有无线功能的任何设备（如笔记本电脑、平板电脑或电话）获取实时结果并操作仪器。
轻松导出数据：
轻松导出定量矿物学/相ID结果以便进行显示或进一步的数据分析，使用网络文件夹访问原始数据文件以便分析衍射图（适用于喜欢使用第三方软件进行人工分析的用户）。
Olympus的BTX III的分析性能仍不逊色，可用于台式实验室的分析。
样品制备简便
XPowder软件
随BTX II一起运送给用户的有一个用于处理X射线衍射数据结果所必需的软件（XPowder）。 这个软件中包含AMCSD矿物数据库。
针对定量分析，XPowder为用户提供了各种参考密度比率（RIR）定量分析方式以及对各种衍射图案进行分析的工具。
此外，BTX II还可以多种文件格式提供XRD图案数据，从而可使用户方便地获得第三方项目中的XRD图案的判读信息。
X射线衍射数据
包含搜索/匹配及XRD定量分析软件
X射线荧光数据
XRF的定性扫查
连通性
BTX II可以独立于嵌
BTX的技术规格
| XRD分辨率 | 0.25 o 2Ø FWHM |
|---|---|
| XRD范围 | 5 - 55 o 2Ø |
| 探测器类型 | 1024 x 256像素；2维Peltier致冷CCD |
| XRF能量分辨率 | 200 eV，5.9 keV |
| XRF能量范围 | 3～25 keV |
| 样本颗粒大小 | <150 μm碾碎矿石（100目筛，150 μm) |
| 样品量 | 约15 mg |
| X射线管靶材 | 钴或铜（钴为标准配置) |
| X射线管电压 | 30 kV |
| X射线管功率 | 10 W |
| 数据存储 | 40 Gb，坚固耐用的内部硬盘驱动器 |
| 无线连接 | 802.11 b/g，从网络浏览器进行遥控 |
| 工作温度 | 10 o C～35 o C |
| 重量 | 12.5 kg |
| 尺寸 | 30 x 17 x 47厘米（11.75 x 6.9 x 19.5英寸） |
| 电源要求 | 简单AC电源（无冷却系统） |
BTX可以独立于嵌入仪器本身的软件而操作。用户可以通过无线连接（802.11b/g），访问操作系统。这种的操作方式在控制仪器和随后的数据处理方面具有极大的灵活性。
