产品介绍
VFI是世界各地行业的光子学公司的理想干涉仪。VFI-2000是一种干涉检测系统，专门用于检查切割或抛光光纤的表面质量和平面度。VFI将高的图像质量与易用性以及我们的客户对Arden产品的可靠性和稳健性结合，从而实现您可以信赖的光纤端面测量。使用VFI，用户可以在一系列不同的视图中查看光纤，包括2D和3D视图，让用户能够充分了解其切割或抛光过程。因此，它已经证明自己非常适合研究、生产或QA环境。
性能特点
- 3种不同的视野
- 平面和斜角解理
- 检查和条纹模式
- 自动或手动端角测量
- 2D或3D测量模式
- 三维端面高度图
- 2D测量-实时；三维测量
- 7秒以下
- 高度数据可以保存为csv文件
- 数据输出为Excel或HTML报告
技术参数
产地：英国
视野：max.2000µm，带x1.5、x2、x3和x6数字变焦
图像传感器：1/1.8英寸CMOS阵列，12位，6.4MP
摄像头传感器尺寸：3088 x 2076像素，2.4µm平方像素
LED波长：525 nm
可测量解理角（不使用倾斜光纤支架）
2D模式：8°
3D模式：4°
测量时间
2D模式：实时
3D模式：<7 s
高度分辨率：0.01µm
尺寸：240（宽）x 240（深）x 90（高）mm
重量：3 kg
连接到计算机：USB 3.0（USB类型B到USB A；提供1米电缆）
供电：通过USB供电
操作系统：支持Windows 7/8/10 64位
计算机要求：4GB RAM；USB 3.0端口；64位
工作温度：10–30°C
产品应用
切割机制造
切割机维护
激光制造
光纤研发、专业光纤制造
斜角切肉刀的开发和测试
装置清管器尾矿
LDF切割机制造/维护
光纤端盖制造
多光纤束制造
产品参数
