CHY-01 膜厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
膜厚仪应用范围 ：
适用于 5 mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、 玻璃、 箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达 0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。扩展应用：（需特殊附件或改制）
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产品名称 |
使用范围 |
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薄 膜 |
用于薄膜、薄片、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。 |
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铝 箔 |
对金属箔片 、硬片 等硬质材料厚度测量。 |
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纸 张 |
用于各种纸张、纸板材料厚度测试。 |
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硅 片 |
接触式测试原理有效的检测出硅片上每个点的厚度值。 |
产品特征 ：
l 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制;
l 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差;
l 测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；
l 彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；
l 配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；
l 支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能;
l 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；
l 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 （选配） ；
测试原理 ：
测厚仪 采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。
符合标准 ：
该仪器符合多项国家和国际标准： GB/T 6672-2001 、 GB/T 451.3-2002 、 GB/T 6547-1998 、 ISO 4593-1993 、 ISO 534-2011 、 ISO 3034-2011 、 ASTM D374-1999 、 ASTM D1777-1996(2007) 、 JIS K6250-1997 、 JIS K6783-1994 、 JIS Z1702-1994 、 BS 3983-1989 、 BS 4817 、 TAPPI T411
技术参数 ：
规格名称 技术 参数
测量范围 0- 5 mm(可根据需要定做合适夹具)
测量压力 17.5±1kPa（薄膜）； 10 0±1kPa（纸张）
测量精度 ±0.5um
分辨 率 0.1um
接触面积 50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：纸张需定制
测量速度 10c/min (可调)
外形尺寸 454mmx352mmX500mm
电 源 AC220V 50Hz
净 重 30 kg
产品配置 ：
标准配置：测厚仪主机、标准量块、微型打印机
选用配置：测试软件、通信电缆、配重砝码、自动进样器
