实验室冷热冲击试验机用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

高低温快速冲击测试仪器， 用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害...

冷热温度冲击测试箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

三箱式高低温冲击老化箱，用来测试材料在间达到高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验因其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

高温低温冲击测试箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

冷热冲击检测装置，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

二箱式温度冲击试验箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

两箱式温度冲击试验箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化。

两箱式冷热冲击试验箱，用来测试复合材料及材料结构，在短时间内经高温及低温的连续恶劣环境作用下所能承受的能力，即在短时间内试验因热胀冷缩所引起的化学变化或物理损伤...

电路板高低温冲击试验箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

高低温循环冲击试验箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

高低温冲击循环箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化...

蓄冷式温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性...

温度冲击老化试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性...

二箱式高低温冷热冲击箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物...

高低温温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理...

可程式温度冲击试验设备用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物...

两箱移动式冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之...

二槽式温度冲击试验机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理...

二箱移动式冷热冲击试验箱，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害...