女人天天干夜夜爽视频 菲希尔（FISCHER）X-RAY 系列镀层测厚仪的宣传资料

【资料简介】

从1953年至今，菲希尔（FISCHER）公司不断地在涂镀层测 厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发  展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技  术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确  度、精度和可靠性的要求。

作为在生产测量中使用X射线荧光法的，菲希尔（FISCHER）很早就意识到此方法在镀层厚度测量和材料  分析领域的巨大潜力，因而开始研发和制造工业  级耐用的测量仪器。*台菲希尔X射线仪器在  二十世纪八十年代初就已面世。

从那时起，菲希尔（FISCHER）不断改进和研发X射线荧光技  术，使得该项技术在今天居于地位。其中的  一个例子是透明的狭缝设计，从而使用户可以与  基本射线同方向查看样品。另外，打开仪器舱门  自动弹出测量平台（“弹出功能”）也是由  菲希尔实现的。在软件方面，菲希尔是*使用  *基本参数法来计算光谱的公司。

菲希尔（FISCHER）在生产过程实行严格的质量标准控制，在  对零部件进行苛刻的检验，确保菲希尔X射线仪  器有着的高可靠性。

目前，有超过10000台X射线仪器投入使用，而FISCHERSCOPE®  X-RAY品牌也已成为强大，可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。

的工业制造和科学研究都依赖于这些可靠且的仪器设备。菲希尔（FISCHER）一贯以持续的研发、先进的设备和创新的软件来迎接挑战。因为只有经过精心构思设计和按照高标准制造的产品，zui终  才能有*的工作性能。也只有这样的产品才能配得上菲希尔的品牌。菲希尔是您可信赖的品牌。

能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层  厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性  分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统  的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境  中，这一方法都能胜任，并还可以与现代化  设备一起发挥作用。

EDXRF作为一种常用测试方法，有着其突出的优  势。它几乎可以测量所有工艺相关元素，并且工  作时无损且不接触样品。测量时间一般在数秒钟  内，很少多于一分钟。通常不需要复制的样品制  备，即可进行快速测量。利用该方法，可以同时  测量均质材料及镀层的厚度和化学成分。不仅如  此，EDXRF方法检测各种类型样品里的微量有害  物质。

此外，X射线荧光分析是一种清洁的测量方法，  测量过程不使用任何化学制品。由于有着合理精  巧的设计，X射线不会对操作人员和环境构成任  何威胁：菲希尔X射线仪器是安全可靠的。

X射线荧光分析基于以下物理现象：样品材料中的原  子由于受到初级X射线轰击，从而失去内层轨道中的  某些电子。失去电子所留下的空穴会被外层电子来填  补，在填补的过程中，会产生每个元素*的特征X  射线荧光。接收器探测到该荧光射线后，便能提供样  品的材料组成等信息。

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和  测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛：

在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和  镍层厚度或痕量分析。

在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，分析  贵金属合金组分。

在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部  件*材料设计规范。如在太阳能光伏电池  产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了  光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大  批量部件的厚度。

对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否  符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指  令》（RoHS指令）也是十分关键的。

在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手  段。

对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-  射线光谱仪都能胜任。

将X射线荧光的测量原理转变为耐用高精度的测  量设备，能在实验室和日常工业生产中可靠工  作，需要有开创性的创造力和持之不懈的研发  能力。在菲希尔，我们激情饱满，全力以赴。这  点，您可以在FISCHERSCOPE X射线仪器广泛而  多样的产品型号中一窥究竟

比如，测量方向为自下往上型的光谱仪是快速便  捷地测量大批量生产零件的理想选择。然而对于  诸如硅晶片等不适合接触测量台的样品，那么正  确的选择应该是测量方向为从上往下的仪器。

另一方面，如果要测量引线框架上的针脚或  判断某一区域内的均匀性时，就需要有极小测量  面积并且有高精度可编程XY平台定位的仪器。

对于在运行中的生产线上进行在线测量的要求严  格的场合，就需要一个*不同的测量系统，比  如可以直接将测量头置于真空舱中。