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日本cew光学微缺陷检测设备CEW 光学测量仪
日本cew光学微缺陷检测设备CEW光学分辨率1.8μm,速度检测!用于基板和金属表面的缺陷检测!
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日本kurikou精密零件外观检查灯EC0-027-003
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所在地:东莞市
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¥10000更新时间:2025/5/2 18:16:58
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日本shimatec视觉检查用照明灯MOKUSHISU
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所在地:东莞市
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¥16800更新时间:2025/5/2 16:03:33
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日本csc产品表面外观缺陷检查灯NP-1 光学测量仪
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日本csc产品表面划痕检查灯NP-1 光学测量仪
日本csc产品表面划痕检查灯NP-1 用强光可视化洁净室灰尘、落尘(粗颗粒)、粘附在产品上的污垢、划痕等
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日本csc 空气浮尘检查灯NP-1 光学测量仪
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